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| 發(fā)布時(shí)間： |
2024/6/4 9:37:00 |
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蘇州物理金相分析顯微鏡分析 詳細(xì)說(shuō)明 |
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高加速壽命試驗(yàn)HALT
簡(jiǎn)要介紹：高加速壽命試驗(yàn)英文簡(jiǎn)稱(chēng)為HALT，與傳統(tǒng)的可靠性試驗(yàn)相比，HALT試驗(yàn)的目的是激發(fā)故障，即把產(chǎn)品潛在的缺 陷激發(fā)成可觀(guān)測(cè)的故障。因此，它不是采用一般模擬實(shí)際使用環(huán)境進(jìn)行的試驗(yàn)，而是人為施加步進(jìn)應(yīng)力，在遠(yuǎn)大于技術(shù)條件 規(guī)定的極限應(yīng)力下快速進(jìn)行試驗(yàn)，找出產(chǎn)品的各種工作極限與破壞極限。
HALT試驗(yàn)有如下優(yōu)點(diǎn)：利用高環(huán)境應(yīng)力，提早使產(chǎn) 品設(shè)計(jì)缺陷被激發(fā)出來(lái)，從而消除缺陷，大大提高設(shè)計(jì)可靠性。產(chǎn)品的設(shè)計(jì)周期大大減少。生產(chǎn)費(fèi)用大大降低。因?yàn)榻桓兜?產(chǎn)品具備更高的可靠性，所以維修費(fèi)用大大降低。
1.HALT（高加速壽命測(cè)試）：Highly accelerated life test是一種發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)缺陷的工序，它通過(guò)設(shè)置逐級(jí)遞增的加速環(huán)境應(yīng)力，來(lái)加速暴露試驗(yàn)樣品的缺陷和薄弱點(diǎn)，而后對(duì)暴露的缺陷和故障從設(shè)計(jì)、工藝和用料等諸方面進(jìn)行分析和改進(jìn)，從而達(dá)到提升可靠性的目的，~大的特點(diǎn)是設(shè)置高于樣品設(shè)計(jì)運(yùn)行限的環(huán)境應(yīng)力，從而從暴露故障的時(shí)間大大短于正�？煽啃詰�(yīng)力條件下的所需時(shí)間。
2.HASS（高加速應(yīng)力篩選）：Highly accelerated stress screen是產(chǎn)品通過(guò)HALT試驗(yàn)得出操作或破壞極限值后在生產(chǎn)線(xiàn)上做高加速應(yīng)力篩選。要求100%的產(chǎn)品參加篩選。其目的是為了使得生產(chǎn)的產(chǎn)品不存在任何隱患的缺陷或者至少在產(chǎn)品還沒(méi)有出廠(chǎng)前找到并解決這些缺陷,HASS就是通過(guò)加速應(yīng)力以期在短時(shí)間內(nèi)找到有缺陷的產(chǎn)品，縮短糾正措施的周期，并找到具有同樣問(wèn)題的產(chǎn)品。
3.HASA（高加速應(yīng)力抽檢篩選）：Highly accelerated stress audit是一種在產(chǎn)品批量生產(chǎn)階段使用抽樣理論的篩選試驗(yàn)方法。它可以防止有缺陷的產(chǎn)品交付到客戶(hù)的手中。
試驗(yàn)項(xiàng)目：a.低溫步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)；b.高溫步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)；c.快速熱循環(huán)試驗(yàn)；
d.振動(dòng)步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)；e.綜合應(yīng)力試驗(yàn)；f.工作應(yīng)力測(cè)試。
應(yīng)用領(lǐng)域：汽車(chē)產(chǎn)品、電子電氣零部件、通訊產(chǎn)品、航空器材、PCB、PCBA、儀器儀表、家用電器、醫(yī)療器械等。
主
要儀器：高加速壽命（HALT）試驗(yàn)箱。
參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 29309等。
本產(chǎn)品網(wǎng)址：http://s3643.cn/sjshow_507795318/
手機(jī)版網(wǎng)址：http://m.vooec.com/trade_507795318.html
產(chǎn)品名稱(chēng)：蘇州物理金相分析顯微鏡分析 |
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電 話(huà)： |
86-0512-68436032 |
| 傳 真： |
86-- |
| 手 機(jī)： |
18551299949 |
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