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半導(dǎo)體器件I-V測試系統(tǒng)分立器件檢測儀

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發(fā)布時間: 2024/10/22 14:29:00
半導(dǎo)體器件I-V測試系統(tǒng)分立器件檢測儀 詳細說明
  半導(dǎo)體分立器件是指以半導(dǎo)體材料為基礎(chǔ)的單一元件,包括各種半導(dǎo)體材料制成的二極管、三極管、場效應(yīng)管、可控硅等,具有整流、放大、開關(guān)、檢波,穩(wěn)壓、信號調(diào)制等多種功能,衡量晶體管性能好壞主要是通過I-V測試或C-V測試來提取晶體管的基本特性參數(shù),并在整個工藝結(jié)束后評估器件的優(yōu)劣。

半導(dǎo)體分立器件特性參數(shù)測試是對待測器件(DUT)施加電壓或電流,然后測試其對激勵做出的響應(yīng);通常半導(dǎo)體分立器件特性參數(shù)測試需要幾臺儀器完成,如數(shù)字表、電壓源、電流源等。然而由數(shù)臺儀器組成的系統(tǒng)需要分別進行編程、同步、連接、測量和分析,過程既復(fù)雜又耗時,還占用過多測試臺的空間。而且使用單一功能的測試儀器和激勵源還存在復(fù)雜的相互間觸發(fā)操作,有更大的不確定度及更慢的總線傳輸速度等缺點。

實施特性參數(shù)分析的~佳工具之一是數(shù)字源表(SMU)。普賽斯歷時多年打造了高精度、大動態(tài)范圍、率先國產(chǎn)化的源表系列產(chǎn)品,集電壓、電流的輸入輸出及測量等功能于一體。可作為獨立的恒壓源或恒流源、伏特計、安培計和歐姆表,還可用作精密電子負載。其高性能架構(gòu)還允許將其用作脈沖發(fā)生器,波形發(fā)生器和自動電流-電壓(I-V)特性分析系統(tǒng),支持四象限工作。普賽斯“五合一”高精度數(shù)字源表(SMU)可為高校科研工作者、器件測試工程師及功率模塊設(shè)計工程師提供測量所需的工具。不論使用者對源表、電橋、曲線跟蹤儀、半導(dǎo)體參數(shù)分析儀或示波器是否熟悉,都能簡單而迅速地得到精確的結(jié)果。


普賽斯源表輕松實現(xiàn)二極管特性參數(shù)分析

二極管是一種使用半導(dǎo)體材料制作而成的單向?qū)щ娦栽骷a(chǎn)品結(jié)構(gòu)一般為單個PN結(jié)結(jié)構(gòu),只允許電流從單一方向流過。發(fā)展至今,已陸續(xù)發(fā)展出整流二極管、肖特基二極管、快恢復(fù)二極管、PIN二極管、光電二極管等,具有安全可靠等特性,廣泛應(yīng)用于整流、穩(wěn)壓、保護等電路中,是電子工程上用途~廣泛的電子元器件之一。IV特性是表征半導(dǎo)體二極管PN結(jié)制備性能的主要參數(shù)之一,二極管IV特性主要指正向特性和反向特性等;


普賽斯S系列、P系列源表簡化場效應(yīng)MOS管I-V特性分析

MOSFET(金屬—氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管)是一種利用電場效應(yīng)來控制其電流大小的常見半導(dǎo)體器件,可以廣泛應(yīng)用在模擬電路和數(shù)字電路當(dāng)中,MOSFET可以由硅制作,也可以由石墨烯,碳納米管 等材料制作,是材料及器件研究的熱點。主要參數(shù)有輸入/輸出特性曲線、閾值電壓 VGS(th)、漏電流IGSS、IDSS,擊穿電壓VDSS、低頻互導(dǎo)gm、輸出電阻RDS等。

三極管符號.png

普賽斯數(shù)字源表快速、準(zhǔn)確進行三極管BJT特性分析

三極管是半導(dǎo)體基本元器件之一,具有電流放大作用,是電子電路的核心元件。三極管是在一塊半導(dǎo)體基片上制作兩個相距很近的PN結(jié),兩個PN結(jié)把整塊半導(dǎo)體分成三部分,中間部分是基區(qū),兩側(cè)部分是發(fā)射區(qū)和集電區(qū)。設(shè)計電路中常常會關(guān)注的參數(shù)有電流放大系數(shù)β、極間反向電流ICBO、ICEO、集電極~大允許電流ICM、反向擊穿電壓VEBO、VCBO、VCEO以及三極管的輸入輸出特性曲線等參數(shù)。


普賽斯五合一高精度數(shù)字源表(SMU)在半導(dǎo)體IV特性測試方面擁有豐富的行業(yè)經(jīng)驗,為半導(dǎo)體分立器件電性能參數(shù)測試提供全面的解決方案,包括二極管、MOS管、BJT、IGBT、二極管電阻器及晶閘管等。此外,普賽斯儀表還提供適當(dāng)?shù)碾娎|輔件和測試夾具,實現(xiàn)安全、精確和可靠的測試。欲了解更多半導(dǎo)體器件I-V測試系統(tǒng)分立器件檢測儀的信息,歡迎隨時來電咨詢普賽斯儀表!詳詢一八一四零六六三四七六;










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