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| 您現(xiàn)在的位置： 北京北廣精儀儀器設(shè)備有限公司 > 供應(yīng)信息> 四探針電阻率測(cè)試儀 |
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| 發(fā)布時(shí)間： |
2024/11/13 15:02:00 |
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四端測(cè)試法是目前較先進(jìn)之測(cè)試方法，主要針對(duì)高精度要求之產(chǎn)品測(cè)試；本儀器廣泛用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，四探針法涉及到半導(dǎo)體材料、金屬材料試驗(yàn)、絕緣流體、獸醫(yī)學(xué)、復(fù)合增強(qiáng)材料、電工器件、無損檢測(cè)、集成電路、微電子學(xué)、土質(zhì)、土壤學(xué)、水質(zhì)、電子顯示器件、有色金屬。
在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，四探針法涉及到半金屬與半導(dǎo)體材料綜合、金屬物理性能試驗(yàn)方法、、、電工合金零件、特種陶瓷、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、電阻器、半導(dǎo)體集成電路、工程地質(zhì)、水文地質(zhì)勘察與巖土工程、水環(huán)境有物質(zhì)分析方法、電工材料和通用零件綜合、半金屬、元素半導(dǎo)體材料、金屬無損檢驗(yàn)方法。
GB/T 6617-2009 硅片電阻率測(cè)定 擴(kuò)展電阻探針法
GB/T 14141-2009 硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層薄層電阻的測(cè)定.直排四探針法
GB/T 1551-1995 硅、鍺單晶電阻率測(cè)定 直流兩探針法
GB/T 6617-1995 硅片電阻率測(cè)定 擴(kuò)展電阻探針法
GB/T 1552-1995 硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直排四探針法
本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料之電導(dǎo)率。液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電導(dǎo)率單位自動(dòng)選擇，BEST-300C 材料電導(dǎo)率測(cè)試儀自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成圖表和報(bào)表。
本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、方阻、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).
半導(dǎo)材料四探針測(cè)試儀（BEST-300C）
半導(dǎo)電材料電阻測(cè)試儀BEST-300C
特點(diǎn)：電阻精度：0.01%，小分辨率0.1uΩ；
方電阻精度：1%，小分辨率：0.1uΩ；
雙電測(cè)原理，提精度和穩(wěn)定性；
測(cè)試探頭直排和矩形可選；
標(biāo)配RS232、LAN、IO、通訊接；
可配戴軟件查看和記錄測(cè)試數(shù)據(jù)；
適用范圍
使?四探針治具測(cè)試?狀或塊狀半導(dǎo)體材料、屬涂層以及導(dǎo)電薄膜等材料的?阻和電阻率
使?開爾?測(cè)試夾直接測(cè)試電阻器直流電阻；
四端測(cè)試法是目前較之測(cè)試方法，主要針對(duì)高精度要求之產(chǎn)品測(cè)試；本儀器廣泛用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。
本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料之電導(dǎo)率。液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電導(dǎo)率單位自動(dòng)選擇，BEST-300C 材料電導(dǎo)率測(cè)試儀自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成圖表和報(bào)表。
本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、方阻、電導(dǎo)率值、溫度、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).
提供中文或英文兩種語言操作界面選擇，滿足國(guó)內(nèi)及國(guó)外客戶需求
四探針?阻測(cè)試儀是運(yùn)?四探針原理測(cè)量?塊電阻的專?儀器，電阻率和電導(dǎo)率同時(shí)顯。儀器
測(cè)試范圍0-10MΩ，分辨率0.1uΩ，電阻精度0.01%，精度2%。可?于測(cè)試半導(dǎo)體、屬涂層導(dǎo)電薄膜等材料的?阻和電阻率。
參數(shù)便于查看的顯示/直觀的操作性：高亮度、超清晰4.3寸彩色LCD顯示；操作易學(xué)，直觀使用；
基本設(shè)置操作簡(jiǎn)單，方阻、電阻、電阻率、電導(dǎo)率和分選結(jié)果；多種參數(shù)同時(shí)顯示。
本產(chǎn)品網(wǎng)址：http://s3643.cn/sjshow_507810393/
手機(jī)版網(wǎng)址：http://m.vooec.com/trade_507810393.html
產(chǎn)品名稱：四探針電阻率測(cè)試儀 |
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電 話： |
86-010-66024083 |
| 傳 真： |
86-- |
| 手 機(jī)： |
18911397564 |
| 地 址： |
北京市海淀區(qū)上地十街1號(hào)院4號(hào)樓17層1707 |
| 網(wǎng) 址： |
http://bgjy.cn.vooec.com |
| 郵 編： |
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